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[전방일치/ 기사저자명:Giardini M.]

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Ellipsometric characterization of amorphous and polycrystalline silicon films deposited using a single wafer reactor
기사저자명 : Borghesi, A
출판사 : American Institute of Physics
발행년 : 1980

Key factors of innovation in R&D and technology departments: measurement techniques and linkages to human resource policies
기사저자명 : Giardini, M.; Kyllonen, J.
출판사 : Inderscience
발행년 : 2004

Key factors of innovation in R&D and technology departments: measurement techniques and linkages to human resource policies
기사저자명 : Giardini, M.; Kyllonen, J.
출판사 : unknown
발행년 : 2004

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